概述
测试中碰到破坏RAID或下线磁盘的场景,需要从设备上拔盘,然后等产品侦测到对应Disk或VD异常后,再插回去,验证程序侦测及时性是否存在问题。
由于要频繁的进出机房进行设备的拔出与插回操作,比较麻烦,是否有更便捷的方式进行操作呢?
本
2020-07-10